一、背景

國內冰箱行業(yè)發(fā)展過(guò)程中，冰箱性能試驗用模擬負載經(jīng)歷了直接用牛肉、少量進(jìn)口試驗包、國產(chǎn)試驗包幾個(gè)階段。GB/T 8059-2016雖然規定了試驗包的成分及配比，但是對各種成分的偏差范圍未做明確限定。標準中說(shuō)明a）型試驗包熱學(xué)性能（凍結點(diǎn)-1℃）相當于瘦牛肉，b）型試驗包熱學(xué)性能（凍 結點(diǎn)-5℃）沒(méi)有提出熱學(xué)性能相當的自然物質(zhì)，由于熱學(xué)性能的測定較困難，對凍結點(diǎn)的偏差范圍也未做明確限定，所以試驗包制作過(guò)程中的成分比例控制與制作工藝隨意性很大，由此造成試驗包的熱學(xué)性能偏差較大，使得冰箱性能測試的準確性差、一致性差，對冰箱生產(chǎn)的品質(zhì)控制及產(chǎn)品開(kāi)發(fā)造成不利影響。b

 

根據多年來(lái)形成的慣例，一般凍結點(diǎn)上下偏差0.5℃ 即為合格。事實(shí)上凍結點(diǎn)上偏差0.5℃，試驗中就會(huì )減少全部試驗包降低0.5℃所需要的冷量，減少降溫所需要的時(shí)間。同理，凍結點(diǎn)下偏差0.5℃，就會(huì )增加試驗中的冷量，增加降溫時(shí)間。所以使用凍結點(diǎn)偏差較大的試驗包進(jìn)行檢測，對檢測結果的影響也是明顯的。

 

基于此背景，本文計劃研制以?xún)鼋Y點(diǎn)溫度為特性值的試驗包標準樣品，并以?xún)鼋Y點(diǎn)溫度為關(guān)鍵特性參數。如何能夠準確測量出試驗包凍結點(diǎn)溫度，對冰箱性能測試起著(zhù)關(guān)鍵作用。目前冰箱性能測試用一只熱電偶預埋試驗包內部制成M包，用于監測溫度。但即使是#高精度的熱電偶也有0.5℃偏差，因此，使用熱電偶對試驗包凍結點(diǎn)進(jìn)行測量，理論上無(wú)法滿(mǎn)足較高的精度要求。在眾多的溫度測量裝置中，鉑電阻的精度和穩定性均優(yōu)于熱電偶，對于需要高精度的溫度測量，一般都采用鉑電阻，因此，鉑電阻被確定為理想的溫度測量裝置�；�于理論分析和實(shí)際需要，在試驗包凍結點(diǎn)測試方法的研究中，確定使用鉑電阻和熱電偶進(jìn)行比較分析測量。 

 

二、熱電偶與鉑電阻的特性分析及確定

在電氣領(lǐng)域的檢測中，常用的測溫裝置有熱電偶和鉑電阻。熱電偶是電氣領(lǐng)域中溫升試驗常用測溫裝置，同時(shí)標準GB/T 8059-2016中描述的M包，也指出使用熱電偶等作為溫度測量裝置。與熱電偶相比，鉑電阻穩定性更好，精度更高，由于試驗包凍結點(diǎn)溫度要求的偏差較小，在試驗#初鉑電阻被認為是測量試驗包凍結點(diǎn)溫度的理想測溫裝置。#終確定在進(jìn)行凍結點(diǎn)測試試驗時(shí)使用熱電偶和鉑電阻兩種測溫裝置，便于分析比較。GB/T 16839.1-2018表12中給出了熱電偶允差，參考G B 4706.1-2005第11章中的11.3條中提到，溫升由細絲熱電偶確定，同時(shí)注1中指出，細絲熱電偶是指線(xiàn)徑不超過(guò)0.3mm的熱電偶。因此，#終確定使用AWG30線(xiàn)徑約為0.25mm的1級T型熱電偶。根據JB/T 8622-1997《工業(yè)鉑熱電阻技術(shù)條件及分度表》，鉑電阻劃分為A、B二個(gè)等級，實(shí)際常用1/3B、A、B三個(gè)精度等級�？紤]到實(shí)際試驗中常用的鉑電阻，暫時(shí)確定在試驗時(shí)使用直徑為4mm長(cháng)為40mm的A級Pt100鉑電阻。

三、試驗方案設計

使用-1℃的低溫槽對熱電偶和鉑電阻進(jìn)行校準，滿(mǎn)足要求后將熱電偶和鉑電阻分別插入同一批次的兩個(gè)試驗包中。使兩種測溫裝置的頂部位于試驗包的幾何中心處，放入環(huán)境溫度為-24℃的低溫環(huán)境中進(jìn)行凍結點(diǎn)測試。初次測量，熱電偶的測量結果高于鉑電阻測量結果約0.5℃，與預期結果偏差較大。初步分析，可能是試驗包自身偏差導致，因此再次使用相同的熱電偶和鉑電阻，插入同一個(gè)試驗包的幾何中心處重復進(jìn)行試驗，以消除試驗包自身偏差影響，但熱電偶的測量結果仍然高于鉑電阻測量結果約0.5℃。從理論上分析，如果是經(jīng)過(guò)校準的熱電偶和鉑電阻對于測量同一種物

質(zhì)的溫度，其修正后的結果應該相同，但本試驗結果超出預期。為了確定問(wèn)題所在，重新設計一組試驗。將四個(gè)試驗包(編號為A、B、C、D)并排黏在一起，將一支鉑電阻（編號為4）從D試驗的外側面的中心插入至A試驗包的幾何中心處，使鉑電阻在試驗包內的長(cháng)度約為35cm（參考JJF1171-2007《溫度巡回檢測儀校準規范》 中6.6.5條，校準時(shí)，將裝入傳感器的玻璃管插入介質(zhì)中，插入深度不少于300mm）。并在同一試驗包上插入兩只熱電偶（編號為7和8）如 圖1進(jìn)行對比。

 

將裝好鉑電阻和熱電偶的四個(gè)試驗包(編號為A、B、C、D)，放 入-24℃的低溫環(huán)境中進(jìn)行凍結點(diǎn)溫度測試。測試結果如表1。由測量結果表1和曲線(xiàn)圖（圖 2）可以看出，在增加了鉑電阻測溫裝置在測量物質(zhì)中的深度后，鉑將裝好鉑電阻和熱電偶的四個(gè)試驗包(編號為A、B、C、D)，放 入-24℃的低溫環(huán)境中進(jìn)行凍結點(diǎn)溫度測試。測試結果如表1。

由測量結果表1和曲線(xiàn)圖（圖 2）可以看出，在增加了鉑電阻測溫裝置在測量物質(zhì)中的深度后，鉑電阻與熱電偶的測量結果基本一致。

 

在試驗1的基礎上，去掉B、 C、D試驗包如圖2。再次放入-24℃的環(huán)境中進(jìn)行測試，測試結果如表2。

由試驗2測試結果可以看出，鉑電阻的測試結果低于熱電偶的測試結果，且明顯低于試驗1的鉑電阻-5.33℃的測試結果。同時(shí)與

 

本文開(kāi)頭提到初次測量時(shí)鉑電阻與熱電偶的試驗結果相差約0.5℃的情況基本吻合。實(shí)際測試中，在按照圖1試驗時(shí)，可觀(guān)察到鉑電阻與7號熱電偶溫度顯示基本一致；在試驗2中，試驗開(kāi)始時(shí)的一段時(shí)間內，鉑電阻溫度加速下降，下降至低于7號熱電偶一定溫度，并與熱電偶溫度保持該溫度差同步下降。至此推斷，直徑為4mm長(cháng)為40mm的鉑電阻，由于感溫裝置尺寸比較大，受環(huán)境溫度影響嚴重，不適合用于試驗包凍結點(diǎn)的測試。

 

基于此結果，考慮使用較小尺寸的鉑電阻進(jìn)行凍結點(diǎn)溫度的測量是否可行。專(zhuān)門(mén)定制了三支小尺寸鉑電阻（直徑3mm，長(cháng)15mm），編號為1、2、3。把鉑電阻和熱電偶插入同一個(gè)試驗包的幾何中心處進(jìn)行凍結點(diǎn)測試試驗，試驗3布置圖見(jiàn)圖3，結果見(jiàn)表3。編號1、2、3為鉑電阻，編號為5、 6、7、8、9、10為熱電偶。

顯示鉑電阻測試結果略低于熱電偶，但差異并不明顯。為了確定環(huán)境對小尺寸的鉑電阻是否同樣存在影響，避免不同測溫裝置之間差異的影響，進(jìn)一步進(jìn)行試驗4，比較鉑電阻的測試結果。

 

在圖3的基礎上，按照圖4相應增加試驗包的數量，使鉑電阻深入試驗包的深度依次遞減。將圖4的所有試驗包放入-24℃的環(huán)境中進(jìn)行凍結點(diǎn)溫度測試，結果如表4。

將試驗3和試驗4的鉑電阻測試結果進(jìn)行比較，如表5。

通過(guò)比較可以看出，隨著(zhù)鉑電阻的插入深度的減小，凍結點(diǎn)溫度的測量差值越來(lái)越小，再次證明環(huán)境溫度對小尺寸的鉑電阻仍然存在影響。

 

另外，通過(guò)對不同尺寸鉑電阻的試驗結果進(jìn)行對比，即編號為1和 4的鉑電阻測試結果比較，如表6�？梢钥闯鲭S著(zhù)鉑電阻的尺寸減小，環(huán)境溫度對鉑電阻測量值的影響大大降低，但仍不能完全避免。

 

四、總結

通過(guò)上述試驗方案，經(jīng)過(guò)多次時(shí)，鉑電阻的插入深度不能有效避免環(huán)境溫度的影響，導致測量值偏離實(shí)際值。

 

綜上，在進(jìn)行試驗包凍結點(diǎn)測試時(shí)，使用熱電偶進(jìn)行測量是更為適合的。同時(shí)在制定《制冷器具試驗包凍結點(diǎn)測試方法》時(shí)，也規定采用細絲熱電偶進(jìn)行試驗包凍結點(diǎn)溫度的測試。

 

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